追求理想的TEM样品制备工具
在高科技设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。 近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。 日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam®*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000。