灵活且易于使用—蔡司Xradia 515 Versa
作为一款工作平台，蔡司Xradia 515 Versa提供出色的分辨率，打破了三维成像的一微米分辨率壁垒，使中型成像中心和工业实验室这样的机构更加实用化，能进行同步辐射质量级的研究。
专为现代化实验室设计的蔡司Xradia 515 Versa是一款值得信赖的X射线显微镜，为您的科学和工业研究提供出众的多样化应用。其标志性的大工作距离高分辨率（RaaD）功能可助您在较长的工作距离下依然保持优异的分辨率，为各类样品提供突破性的见解。结合强大的衬度和四维/原位功能，可满足各种研究需求，该平台十分灵活，确保快速提供成像结果。
使用Versa对硫化铜矿石进行成像，并用Mineralogic 3D进行矿物分类
一流的大工作距离高分辨率
蔡司Xradia 515 Versa比microCT更胜一筹，在科学探索和工业研究领域为您开启多样化应用的新境界。Xradia 515 Versa作为X射线显微镜的利器，搭载Versa XRM平台的标志性大工作距离高分辨率（RaaD）成像技术。全球的前沿研究人员和科学家都仰仗大工作距离高分辨率（RaaD）功能，确保在更大的工作距离内保持高分辨率，以获得出色的科学见解和研究成果。蔡司Versa X射线显微镜的灵活性与强大的衬度和四维/原位功能相结合，可满足不同的样品尺寸、类型和研究需求。该产品颇为实用，可快速为您的实验室提供成像结果。
传统的计算机断层扫描依赖单级几何放大，而对于更大的样品，由于需要更长的工作距离，不可能保持高分辨率。蔡司Versa XRM采
用基于同步辐射口径光学元件的两级放大架构。多尺度功能确保在各种放大倍率下对同一样品进行成像。
Smartshield在“定位和扫描”(Scoutand-can)系统中完全集成了快速防撞圌创建功能，在三维层面上考虑样品和设备安全。
蔡司Xradia 515 Versa特色功能
定位和扫描（Scout-and-Scan）控制系统
40×物镜可实现500
nm的空间分辨率以及小至40
nm的体素
基于同步辐射口径光学元件的两级放大架构
用于系统/样品保护的SmartShield
可实现高性能的系统稳定性
选配的平板探测器（FPX）可实现大观察视野成像
选配的高级重构工具箱可增强性能
可选配件：可编程的自动进样装置最多可处理14个样品，原位接口组件可用于原位/四维成像
即便面对挑战性高的材料，如低原子序数（低Z）材料、软组织、聚合物、包裹在琥珀中的化石生物以及其他低衬度材料等，蔡司Versa XRM系统都可以提供灵活、高衬度的成像结果。
